|
|
Vysokoteplotní procesy ve výrobě křemíkových fotovoltaických článků
Frantík, Ondřej ; Hudec, Lubomír (oponent) ; Banský,, Juraj (oponent) ; Szendiuch, Ivan (vedoucí práce)
Práce je zaměřena na vysokoteplotní procesy ve výrobě krystalických solárních článků. Hlavním tématem výzkumu je difúze tradičních příměsí fosforu a boru. Difúzní procesy pro vytváření solárních článků jsou odlišné v porovnání s obdobnými difúzemi při výrobě integrovaných obvodů, a proto práce podrobně popisuje vzniklé vrstvy a jejich vlastnosti. Znalost difúzních procesů je využita pro vytváření bifaciálních solárních článků a vývoj nového fosforového emitoru pro konvenční solární články. Bifaciální články jsou novými typy článků. Vyvinutý difundovaný emitor zvyšuje účinnost a snižuje náklady na výrobu solárního článku. Další část práce se věnuje modelování difúzních procesů. Pomocí softwaru SILVACO jsou vytvořeny modely difúze fosforu a boru pro solární články. Modely korespondují s reálnými výsledky.
|
|
|
Studium morfologie velmi tenkých vrstev XPS analýzou více spektrálních čar jednoho prvku
Pokorný, David ; Šik, Ondřej (oponent) ; Polčák, Josef (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá metodologií určení tloušťky tenké vrstvy pomocí rentgenového záření stříbrné anody, která poskytuje záření o energii 2984,3 eV. Tato, oproti standardní hliníkové anodě, přibližně dvojnásobná hodnota energie přináší možnost zkoumat ve spektru nové čáry s vyšší vazebnou energií, a také vzhledem k vyšší energii emitovaných fotoelektronů i větší informační hloubku. Pro získání správných výsledků bylo nejprve potřeba provést kalibraci spektrometru Kratos Axis Supra v režimu stříbrné anody a získat potřebnou podobu trasmisní funkce. Samotné určení tloušťky tenké vrstvy bylo provedeno pomocí srovnání poměru intenzit různých čar fotoelektronového spektra s teoretickým modelem. Konkrétně bylo využito peaků Si 1s a Si 2p vázaných v substrátu ve vazbě Si-Si, případně v tenké oxidové vrstvě ve vazbě Si-O. Výsledky ukazují, že pro určení tloušťky tenké vrstvy SiO2/Si je nejlepší využít poměr intenzit pouze jednoho peaku. Stříbná anoda ovšem přináší výhodu ve větší informační hloubce.
|
|
|
Plasma-enhanced chemical vapor deposition using TVS/Ar and TVS/O2 mixtures
Sadílek, Jakub ; Salyk, Ota (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
This study is aimed at basic research on a-SiC:H and a-SiOC:H alloys prepared in a form of thin films using plasma-enhanced chemical vapor deposition. These alloys were deposited from tetravinylsilane monomer and its mixtures with argon or oxygen gas at different effective powers under pulsed plasma. Deposited films were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy, Fourier transform infrared spectroscopy, spectro-scopic ellipsometry, and nanoindentation to observe their chemical, optical, and me-chanical properties as a function of deposition conditions.
|
|
| |
|
|
Samovolně seskupené vrstvy na bázi křemíku
Bábík, Adam ; Veselý, Michal (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Byla studována problematika přípravy, charakterizace a vlastností samovolně seskupených monovrstev na bázi křemíku se zaměřením na SA monovrstvy připravené z vinyltriethoxysilanu a vinyltrichlorsilanu. Práce je zaměřena na základní vlastnosti SA monovrstev a popis jejich vzniku. Uvedeny jsou rovněž metody pro analýzu SA monovrstev. Podrobněji je popsáno měření kontaktního úhlu a stanovení volné povrchové energie. Připravené SA vrstvy byly zkoumány z hlediska složení a uspořádání jejich povrchu pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS), elipsometrie a mikroskopie atomových sil (AFM).
|
|
|
Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů
Hegerová, Lucie ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá stanovením tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických filmů s použitím obrazové analýzy. V teoretické části jsou popsány principy metod, které jsou používány k přípravě tenkých vrstev (rotační nanášení, inkoustový tisk, vakuové napařování), vlastnosti tenkých vrstev, způsoby zjišťování tloušťky a indexu lomu látek (metody váhové, metody elektrické, metoda založená na měření koeficientu absorpce světla, interferenční mikroskopie, elipsometrie) a také obrazová analýza (harmonická a waveletová analýza) Pro stanovení tloušťky a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop Epival – Interpako (Carl Zeiss Jena) v kombinaci s digitálním fotoaparátem Nikon Coolpix 5400 a počítačem. Byly určeny tloušťky vrstev z interferenčních obrazců hran a rýh a to jak ze strany kovového kontaktu tak i ze strany podložního sklíčka. Ze získaných hodnot byly určovány indexy lomu tenkých vrstev. V závěru práce jsou diskutovány výsledky interferenčních obrazců fotografovaných po celé délce hliníkového kontaktu určeném pro měření elektrických vlastností struktur s DPP. Výsledkem jsou pak tloušťky jednotlivých vrstev struktury (indexy lomu).
|
|
|
Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
|
|
|
Nanolayered Composites
Kontárová, Soňa ; Salyk, Ota (oponent) ; Mistrík, Jan (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
This study is aimed at the basic research of plasma polymer films and an influence of deposition conditions on structure and properties of single-layer films and multilayers prepared by PE CVD method. Single layer and multilayered a-SiC:H films were deposited on silicon wafers from tetravinylsilane monomer (TVS) at different powers in continual and pulse regimes. The films were investigated extensively by spectroscopic ellipsometry, nanoindentation, atomic force microscopy (AFM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), X-ray reflectivity, Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and contact angle measurements to observe their optical, mechanical and chemical properties. The influence of the deposition condition on the physicochemical properties of pp-TVS films was revealed and quantified. Single layers were also exposed to UV light as post-deposition treatment to investigate aging effects and the influence of UV irradiation on their physical and chemical properties. Multilayered structures (bi-layered and 10-layered plasma polymerized films) of individual layer thickness down to 25 nm were successfully deposited and characterized by ellipsometric spectroscopy. Materials with tailored properties can be developed for nanocomposite applications and optical devices.
|
|
|
Studium optických vlastností tenkých vrstev perovskitů a jejich prekurzorů
Blahut, Jan ; Pospíšil, Jan (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých vrstev perovskitů a příslušných prekurzorů. První dvě kapitoly teoretické části jsou teoretickým seznámením se studovanou problematikou, pojednávají o základech elektromagnetického záření a jeho interakcích s hmotou a základních informacích o perovskitových materiálech, zejména pak o jejich polovodičové struktuře. Zbylé dvě kapitoly se zabývají konkrétními principy a praktickým využitím metod a postupů jednak přípravy tenkých vrstev, jednak instrumentální charakteristiky tenkých vrstev z hlediska jejich optických vlastností. Experimentální část je zaměřena na přípravu roztoků perovskitů a jejich prekurzorů, kde proběhla replikace a optimalizace publikovaných postupů, přípravu tenkých vrstev těchto roztoků metodou spin coating a jejich následnou elipsometrickou charakterizaci za pomoci metody Tauc plot, modelování a fitování experimentálně získaných dat, které vedly ke stanovení indexu lomu, absorpčního koeficientu a šířky zakázaného pásu jednotlivých materiálů.
|
|
|
Spectroscopic studies of new generation of optical and magneto-optical materials
Butková, Eva ; Veis, Martin (vedoucí práce) ; Chlan, Vojtěch (oponent) ; Zemen, Jan (oponent)
Název: Nová generace magnetických materiálů a nanostruktur studovaná spektroskopickými metodami Autor: Eva Butková Oddělení / Ústav: Oddělení magnetooptiky, Fyzikální ústav UK Department of Materials Science and Technology, Nagaoka University of Technology. Vedoucí práce / školitel: RNDr. Martin Veis, Ph.D., Oddělení magnetooptiky, Fyzikální ústav UK Dr. Takayuki Ishibashi, Ph.D., Department of Materials Science and Technology, Nagaoka University of Technology Abstrakt: V posledních letech byla navržena nová optická a magnetooptická zařízení. Tyto sahají od integrovaných fotonických zařízení jako jsou 3D holografické displeje, až po magnetický záznam, či nereciproční fotonické zařízení jako jsou optické izolátory a oběhové regulátory, nebo vysoce energetické rentgenové/gama detektory paprsků. Tato zařízení však vyžadují vhodné materiály s laditelnými optickými a magnetooptickými vlastnostmi. Předkládaná práce si klade za cíl systematicky studovat takové materiály, konkrétně GdxFe(100-x), magnetické granáty (Y3-xBixFe5O12, Nd2BiFe(5-x)GaxO12, Nd0.5Bi2.5Fe(5-x)GaxO12) a Ce(0.95-x)HfxCo0.05O(2-δ). Systematické studium se provádí kombinací experimentálních metod spektroskopické elipsometrie, magnetooptické Kerrovy a magnetooptické Faradayovy spektroskopie. Experimentální data jsou konfrontována s teoretickými...
|
host ::
RSS.